4H/6H-P 6inch SiC wafer Zero MPD derejeli önümçilik derejesindäki maket derejesi

Gysgaça düşündiriş:

4H/6H-P görnüşli 6 dýuýmlyk SiC plastinkasy elektron enjam önümçiliginde ulanylýan ýarymgeçiriji material bolup, ajaýyp ýylylyk geçirijiligi, ýokary döwülme naprýaženiýesi we ýokary temperatura we korroziýa garşylygy bilen tanalýar. Önümçilik derejesi we Nol MPD (Mikro Turba Defekti) derejesi onuň ýokary öndürijilikli elektrik elektronikasynda ygtybarlylygyny we durnuklylygyny üpjün edýär. Önümçilik derejesindäki plastinkalar berk hil gözegçiligi bilen uly göwrümli enjam önümçiligi üçin ulanylýar, şol bir wagtyň özünde maketi derejeli plastinkalar esasan prosesleri sazlamak we enjamlary synagdan geçirmek üçin ulanylýar. SiC-niň ajaýyp häsiýetleri ony elektrik enjamlary we RF enjamlary ýaly ýokary temperaturaly, ýokary naprýaženiýeli we ýokary ýygylykly elektron enjamlarda giňden ulanmaga mümkinçilik berýär.


Aýratynlyklar

4H/6H-P görnüşli SiC kompozit substratlary Umumy parametr tablisasy

6 inç diametrli kremniý karbidi (SiC) substraty Spesifikasiýa

Dereje Nol MPD önümçiligiDereje (Z) Dereje) Standart önümçilikDereje (P) Dereje) Ýalan derejeli (D Dereje)
Diametr 145.5 mm ~ 150.0 mm
Galyňlygy 350 μm ± 25 μm
Wafer ugry -Offok: 4H/6H-P üçin [1120] tarap 2.0°-4.0° ± 0.5°, okda: 3C-N üçin 〈111〉± 0.5°
Mikrotrubanyň dykyzlygy 0 sm-2
Garşylyklylyk p-tipli 4H/6H-P ≤0.1 Ωꞏsm ≤0.3 Ωꞏcm
n-tipli 3C-N ≤0.8 mΩꞏcm ≤1 m Ωꞏsm
Esasy Tekizlik Ugury 4H/6H-P -{1010} ± 5.0°
3C-N -{110} ± 5.0°
Esasy tekiz uzynlyk 32,5 mm ± 2,0 mm
Ikinji derejeli tekiz uzynlyk 18.0 mm ± 2.0 mm
Ikinji derejeli tekizlik ugry Silikon ýüzüni ýokaryk galdyrmak: Prime tekizliginden ± 5.0° 90° CW
Gyra çykarylyşy 3 mm 6 mm
LTV/TTV/Bow /Warp ≤2.5 μm / ≤5 μm / ≤15 μm / ≤30 μm ≤10 μm / ≤15 μm / ≤25 μm / ≤40 μm
Göwünsizlik Polşa Ra≤1 nm
CMP Ra≤0.2 nm Ra≤0.5 nm
Ýokary intensiwli çyranyň gyralarynyň çatlamagy Hiç hili Jemi uzynlyk ≤ 10 mm, ýeke uzynlyk ≤ 2 mm
Ýokary intensiwli çyra arkaly altyburçluk plitalar Jemi meýdan ≤0.05% Jemi meýdan ≤0.1%
Ýokary intensiwli çyra arkaly politip meýdanlary Hiç hili Jemi meýdan ≤3%
Wizual uglerod goşulmalary Jemi meýdan ≤0.05% Jemi meýdan ≤3%
Ýokary intensiwli çyra bilen kremniýiň ýüzündäki çyzyklaryň Hiç hili Jemi uzynlyk ≤1 × wafer diametri
Ýokary derejeli intensiwlikli çyranyň gyra çipleri ≥0.2 mm giňlik we çuňluk rugsat berilmeýär 5 rugsat berilýär, her biri ≤1 mm
Ýokary intensiwlik bilen kremniýiň ýüzüniň hapalanmagy Hiç hili
Gaplama Köp waferli kasset ýa-da ýeke waferli gap

Bellikler:

※ Kemçilikleriň çäklendirmeleri gyralary aýyrýan ýerden başga, plastilin ýüzüniň tutuşyna degişlidir. # Çyzgylar Si ýüzünde barlanmalydyr

Nol MPD derejesi we önümçilik ýa-da maket derejesi bolan 4H/6H-P görnüşli 6 dýuýmlyk SiC plastinka ösen elektron ulgamlarynda giňden ulanylýar. Onuň ajaýyp ýylylyk geçirijiligi, ýokary döwülme naprýaženiýesi we berk gurşawlara garşylygy ony ýokary naprýaženiýeli açarlar we inwertorlar ýaly güýç elektronikasy üçin ideal edýär. Nol MPD derejesi ýokary ygtybarly enjamlar üçin möhüm bolan minimal kemçilikleri üpjün edýär. Önümçilik derejesindäki plastinkalar güýç enjamlarynyň we RF ulgamlarynyň uly möçberli önümçiliginde ulanylýar, bu ýerde öndürijilik we takyklyk möhümdir. Beýleki tarapdan, maket derejesindäki plastinkalar prosesleri kalibrlemek, enjamlary synagdan geçirmek we prototip düzmek üçin ulanylýar, bu bolsa ýarymgeçiriji önümçilik gurşawynda yzygiderli hil gözegçiligini üpjün edýär.

N-tipli SiC kompozit substratlarynyň artykmaçlyklary şulary öz içine alýar

  • Ýokary ýylylyk geçirijiligi: 4H/6H-P SiC plastinkasy ýylylygy netijeli ýaýradýar, bu bolsa ony ýokary temperatura we ýokary kuwwatly elektron ulgamlary üçin amatly edýär.
  • Ýokary döwülme naprýaženiýesiÝokary woltly elektrik toguny bökdençsiz dolandyryp bilmek ukyby ony elektrik elektronikasy we ýokary woltly elektrik toguny kommutasiýa ulgamlary üçin ideal edýär.
  • Nol MPD (Mikrotrubanyň kemçiligi) derejesiMinimal kemçilik dykyzlygy ýokary ygtybarlylygy we öndürijiligi üpjün edýär, bu bolsa talap edilýän elektron enjamlar üçin örän möhümdir.
  • Köpçülikleýin önümçilik üçin önümçilik derejesi: Ýokary öndürijilikli ýarymgeçiriji enjamlaryň berk hil standartlaryna laýyk gelýän uly möçberli önümçiligi üçin amatly.
  • Synag we kalibrleme üçin nusgawy derejeÝokary bahaly önümçilik derejeli waflileri ulanmazdan, prosesleri optimizirlemäge, enjamlary synagdan geçirmäge we prototip döretmäge mümkinçilik berýär.

Umuman alanyňda, Zero MPD derejesi, önümçilik derejesi we maketi derejesi bolan 4H/6H-P 6 dýuýmlyk SiC waferleri ýokary öndürijilikli elektron enjamlary işläp düzmek üçin uly artykmaçlyklary hödürleýär. Bu waferler, esasanam, ýokary temperatura işlemegini, ýokary kuwwatlylyk dykyzlygyny we netijeli kuwwatlylyk öwrülmegini talap edýän ulanylyşlarda peýdalydyr. Zero MPD derejesi enjamyň ygtybarly we durnukly işlemegi üçin iň az kemçilikleri üpjün edýär, önümçilik derejesindäki waferler bolsa berk hil gözegçiligi bilen uly möçberli önümçiligi goldaýar. Maketi derejesindäki waferler prosesleri optimizirlemek we enjamlary kalibrlemek üçin tygşytly çözgüt hödürleýär, bu bolsa olary ýokary takyklykly ýarymgeçirijileri öndürmek üçin zerur edýär.

Jikme-jik diagramma

b1
b2

  • Öňki:
  • Indiki:

  • Habaryňyzy şu ýere ýazyň we bize iberiň