12 dýuýmlyk SiC substrat N görnüşli uly ölçegli ýokary öndürijilikli RF ulanylyşlary
Tehniki parametrler
| 12 dýuýmlyk kremniý karbidi (SiC) substratynyň aýratynlyklary | |||||
| Dereje | ZeroMPD önümçiligi Dereje (Z Dereje) | Standart önümçilik Dereje (P Dereje) | Ýalan derejeli (D derejeli) | ||
| Diametr | 3 0 0 mm ~ 1305 mm | ||||
| Galyňlygy | 4H-N | 750μm±15 µm | 750μm±25 µm | ||
| 4H-SI | 750μm±15 µm | 750μm±25 µm | |||
| Wafer ugry | Okdan daşary: 4H-N üçin <1120 >±0.5° tarap 4.0°, Okda: 4H-SI üçin <0001>±0.5° | ||||
| Mikrotrubanyň dykyzlygy | 4H-N | ≤0.4sm-2 | ≤4 sm-2 | ≤25sm-2 | |
| 4H-SI | ≤5 sm-2 | ≤10 sm-2 | ≤25sm-2 | ||
| Garşylyklylyk | 4H-N | 0.015~0.024 Ω·sm | 0.015~0.028 Ω·sm | ||
| 4H-SI | ≥1E10 Ω·sm | ≥1E5 Ω·sm | |||
| Esasy Tekizlik Ugury | {10-10} ±5.0° | ||||
| Esasy tekiz uzynlyk | 4H-N | Ýok | |||
| 4H-SI | Notch | ||||
| Gyra çykarylyşy | 3 mm | ||||
| LTV/TTV/Bow /Warp | ≤5μm / ≤15μm / ≤35 μm / ≤55 μm | ≤5μm / ≤15μm / ≤35 □ μm / ≤55 □ μm | |||
| Göwünsizlik | Polşa Ra≤1 nm | ||||
| CMP Ra≤0.2 nm | Ra≤0.5 nm | ||||
| Ýokary intensiwli çyranyň gyralarynyň çatlamagy Ýokary intensiwli çyra arkaly altyburçluk plitalar Ýokary intensiwli çyra arkaly politip meýdanlary Wizual uglerod goşulmalary Ýokary intensiwli çyra bilen kremniýiň ýüzündäki çyzyklaryň | Hiç hili Jemi meýdan ≤0.05% Hiç hili Jemi meýdan ≤0.05% Hiç hili | Jemi uzynlyk ≤ 20 mm, ýeke uzynlyk ≤ 2 mm Jemi meýdan ≤0.1% Jemi meýdan ≤3% Jemi meýdan ≤3% Jemi uzynlyk ≤1 × wafer diametri | |||
| Ýokary intensiwli çyra bilen gyra çipleri | ≥0.2 mm giňlik we çuňluk rugsat berilmeýär | 7 rugsat berilýär, her biri ≤1 mm | |||
| (TSD) Rişli wintiň çykyşy | ≤500 sm-2 | Ýok | |||
| (BPD) Esasy tekizligiň dislokasiýa | ≤1000 sm-2 | Ýok | |||
| Ýokary intensiwli ýagtylyk bilen kremniýiň ýüzüniň hapalanmagy | Hiç hili | ||||
| Gaplama | Köp waferli kasseta ýa-da ýeke waferli gap | ||||
| Bellikler: | |||||
| 1 Kemçilikleriň çäkleri gyralaryň aýrylýan meýdanyndan başga, plastilin ýüzüniň tutuşyna degişlidir. 2Çyzyklary diňe Si ýüzünde barlamak gerek. 3 Dislokasiýa maglumatlary diňe KOH bilen oýulan waferlerden alnan. | |||||
Esasy aýratynlyklar
1. Uly ölçegli artykmaçlyk: 12 dýuýmlyk SiC substraty (12 dýuýmlyk kremniý karbid substraty) has uly bir plastinka meýdanyny hödürleýär, bu bolsa plastinkada has köp çip öndürmäge mümkinçilik berýär, şeýdip önümçilik çykdajylaryny azaldýar we hasyllylygy ýokarlandyrýar.
2. Ýokary öndürijilikli material: Kremniý karbidiniň ýokary temperatura garşylygy we ýokary dargama meýdan güýji 12 dýuýmlyk substraty ýokary woltly we ýokary ýygylykly ulanyşlar, mysal üçin, EV inwertorlary we çalt zarýad beriş ulgamlary üçin ideal edýär.
3. Gaýtadan işlemegiň utgaşyklylygy: SiC-iň ýokary gatylygyna we gaýtadan işlemegiň kynçylyklaryna garamazdan, 12 dýuýmlyk SiC substraty optimizirlenen kesmek we jylamak usullary arkaly ýüzdäki kemçilikleriň azalmagyna ýetýär we enjamyň öndürijiligini ýokarlandyrýar.
4. Ýokary derejeli ýylylyk dolandyryşy: Kremniý esasly materiallara garanyňda has gowy ýylylyk geçirijiligi bilen, 12 dýuýmlyk substrat ýokary kuwwatly enjamlarda ýylylygyň ýaýramagyny netijeli çözýär we enjamyň ömrüni uzaldýar.
Esasy ulanylyşlar
1. Elektrik ulaglary: 12 dýuýmlyk SiC substraty (12 dýuýmlyk kremniý karbid substraty) täze nesil elektrik hereketlendiriji ulgamlarynyň esasy bölegi bolup, aralygy artdyrýan we zarýad beriş wagtyny azaldýan ýokary netijeli inwertorlary ulanmaga mümkinçilik berýär.
2. 5G baza stansiýalary: Uly ölçegli SiC substratlary ýokary ýygylykly RF enjamlary goldaýar, bu bolsa 5G baza stansiýalarynyň ýokary güýç we pes ýitgi talaplaryny kanagatlandyrýar.
3. Senagat energiýa çeşmeleri: Gün energiýasyny inwertorlarda we akylly elektrik ulgamlarynda 12 dýuýmlyk substrat energiýa ýitgisini azaltmak bilen birlikde ýokary naprýaženiýelere çydap bilýär.
4. Sarp ediji elektronikasy: Geljekde çalt zarýad berijiler we maglumat merkezi üçin elektrik üpjünçiligi kiçi ölçegli we ýokary netijeliligi gazanmak üçin 12 dýuýmlyk SiC substratlaryny ulanyp biler.
XKH-nyň hyzmatlary
Biz 12 dýuýmlyk SiC substratlary (12 dýuýmlyk kremniý karbid substratlary) üçin ýöriteleşdirilen gaýtadan işlemek hyzmatlaryna ýöriteleşýäris, şol sanda:
1. Zarba kesmek we jylamak: Müşderileriň talaplaryna laýyklykda az zyýanly, ýokary tekizlikli substrat işläp çykarmak, enjamyň durnukly işlemegini üpjün edýär.
2. Epitaksial ösüş goldawy: Çip önümçiligini çaltlandyrmak üçin ýokary hilli epitaksial wafer hyzmatlary.
3. Kiçi tapgyrly prototipleme: Ylmy-barlag edaralary we kärhanalar üçin ylmy-barlag we işläp taýýarlama işleriniň tassyklanmagyny goldaýar, ösüş sikllerini gysgaldyrýar.
4. Tehniki maslahat beriş: Materiallary saýlamakdan başlap, prosesi optimizirlemäge çenli toplumlaýyn çözgütler, müşderilere SiC işläp düzmekdäki kynçylyklary ýeňip geçmäge kömek edýär.
Köpçülikleýin önümçilik üçin ýa-da ýöriteleşdirilen sazlamak üçin bolsun, biziň 12 dýuýmlyk SiC substrat hyzmatlarymyz taslama zerurlyklaryňyza laýyk gelýär we tehnologik ösüşleri güýçlendirýär.









